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Form Measurement of a 300 mm Ellipsoidal Binary Grating Using a Spatio-Temporal Fourier Method
Hui Xun, Sotero Ordoñes, Rong Su · Nanomanufacturing and Metrology · 2026년 · 조회 7
왜 이 논문인가 — 선정 기준
NEW PAPER · 최근 발표된 참신한 논문 — 게재일 기준 최신 + 정상 등재 저널
2026-10 발표 · 게재 1일차 · Nanomanufacturing and Metrology
신규 논문 슬롯에 선정된 이유는 2026년 10월 9일 최신 발표라는 최신성 및 기존 측정 방식의 한계를 극복하는 참신한 방법론이다.
논문 요약
전통적인 레이저 파이조 인터페이스는 골짜기 깊이가 파장 절반을 초과하는 타원형 바이너리 격자의 형상 측정에 한계를 가진다. 본 논문은 3차원 푸리에 변환을 적용한 시공간 푸리에 분석 기법을 도입해 전장 형상 측정을 가능하게 한다. 위상 이동 인터페노그램에 대한 3D 푸리에 변환과 공간 저역 통과 필터링으로 저주파 위상을 추출하고, 배경 강도를 이용해 상하 격자면을 독립적으로 분할·재구성한다. 시뮬레이션 결과, 2.65 µm 깊이의 그루브에 대해 RMS 6.5 nm 이하의 잔여 오차를 달성하였다.
후속 연구설계에 활용하기
향후 연구에서는 제안된 시공간 푸리에 분석을 실제 측정 장비에 적용해 실험적 변수(예: 파장, 인터페노그램 수)와 오차 특성을 정량화할 수 있다.
핵심어
시공간 푸리에형상 측정바이너리 격자전장 인터페노그램
실존 확인
이 논문은 OpenAlex에서 후보로 수집한 뒤, Crossref에 등록된 DOI와 제목 일치를 확인해 노출합니다.
SSRA가 문헌연구에서 인용 논문의 실재 여부를 검증하는 원칙과 같습니다.